Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Abstract

Da bi mogli karakterisati standardne komponenate sa dva i tri kraja za površinsku montažu (Surface Mount Component, SMD) u standardnim EIA (Electronic Industries Association) kućištima koristeći vektorski analizator mreža (Vector Network Analyzer, VNA), potrebno je koristiti prilagodne test stepene koji predstavljaju vezu između SMD komponenti i VNA. Potrebno je projektovati prilagodne test stepene tako da ne dolazi do refleksije korisnog signala kako ne bi uticala na rezultate merenja. Prilagodni test stepeni su realizovani kao mikrostrip na visokofrekventnoj podlozi sa standardnim SMA konektorima na svojim krajevima. Tehničke karakteristike: Prilagodni mikrostrip test stepeni koriste se pri vršenju karakterizacije SMD komponenti sa dva i tri kraja. Dimenzije prilagodnih mikrostrip test stepena su 30×20 mm2, napravljeni od visokofrekventne podloge RO3003, proizvođača Rogers Corporation, SAD (debljine 500 μm i bakarnog provodnog sloja debljine 17 μm). Na prilagodnim mikrostrip test stepenima su montirani standardni SMA konektori za visoke učestanosti. Tehničke mogućnosti: Ovim prilagodnim mikrostrip test stepenima moguće je vršiti karakterizaciju raznih tipova i veličina SMD komponenti sa dva i tri kraja. Moguće je okarakterisati SMD komponente standardnih EIA dimenzija sa dva kraja, i to 0805, 1206 i 1210, odnosno sa tri kraja standardnih EIA dimenzija, i to 2012, 3216 i 3225, raznih tipova (induktora – EMI potiskivača, kondenzatora, LC filtara i filtarskih mreža, i drugih komponenata sa dva i tri kraja), različitih materijala (keramike, feriti, ...)