Naslovi
Prikaz rezultata 1-1 od 1
-
Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima
(Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu, 2010)